大理石平板也稱(chēng)大理石平臺(tái)，取材于地下優(yōu)質(zhì)的巖石層，經(jīng)過(guò)億萬(wàn)年自然時(shí)效，形態(tài)極為穩(wěn)定，不用擔(dān)心因常規(guī)的溫差而發(fā)生變形。大理石平板經(jīng)嚴(yán)格物理試驗(yàn)和選擇的大理石料，結(jié)晶細(xì)密，質(zhì)地堅(jiān)硬。由于大理石系非金屬材料，絕無(wú)磁性反應(yīng)，亦無(wú)塑性變形。

　　大理石平板平面度的檢測(cè)誤差的方法有四種：三點(diǎn)法、對(duì)角線法、最小乘二法以及最小區(qū)域法這四種。

　　三點(diǎn)法是用實(shí)際被測(cè)大理石平板表面上相距最遠(yuǎn)的三點(diǎn)所組成的平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行這個(gè)基準(zhǔn)面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。

　　對(duì)角線檢測(cè)法是以通過(guò)實(shí)際被大理石平板測(cè)表面上的一條對(duì)角線，用來(lái)平行另一條對(duì)角線所作的評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行于這個(gè)基準(zhǔn)面且具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。

　　最小乘二檢測(cè)法是以實(shí)際被測(cè)大理石平板表面的最小二乘平面作為評(píng)定基準(zhǔn)面，用來(lái)平行于最小二乘平面，并具有最小距離的兩包含平面間的距離作為平面度誤差值。最小乘二平面是使實(shí)際被測(cè)大理石平板表面上各點(diǎn)與該平面的距離的平方和為最小的平面。此方法計(jì)算較為復(fù)雜，一般需要計(jì)算機(jī)處理。

　　最小區(qū)域檢測(cè)法是以包含實(shí)際被測(cè)表面的最小包含區(qū)域的寬度作為平面度誤差值，是符合平面度誤差定義的評(píng)定方法。

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